Analysieren Sie empfindliche Proben mit Leichtigkeit, indem Sie die neue, große Kammer mit zwei EDX-Anschlüssen nutzen. mehr. mit hoher Auflösung, Imaging sehr großer Bildflächen, wie Serienschnitte oder Block-Faces. Bilden Sie selbst magnetische Proben einfach ab, Wählen Sie einen Modus zur Ladungsreduzierung aus, der am besten für Ihre Probe geeignet ist: lokale Ladungskompensation, variabler Druck in der Kammer oder NanoVP, Die Erfassung aussagekräftiger Informationen zur Probenoberfläche ohne unerwünschte Hintergrundsignale aus tieferen Probenschichten, Auflösung im Subnanometerbereich bei niedrigen und extrem niedrigen Spannungen und mit effizienter Signaldetektion, Dreimal geringere Linsenaberrationen bei geringen kV-Werten im Vergleich zur Standard-Gemini-Objektivlinse, was zu einem dreimal geringeren Magnetfeld auf der Probe führt, in der Größenordnung von 1 mT, Optimierung der Geometrie und der elektrostatischen und magnetischen Feldverteilung, Ein verbessertes Inlens-Detektor-Signal beim Imaging mit niedriger Spannung, bestmöglicher Auflösung bei jeder Arbeitsenergie durch Kondensoroptimierung des Strahlkonvergenzwinkels unter allen Arbeitsbedingungen, nahtlosem Übergang zwischen Probennavigation und hochauflösendem Imaging durch einen neuen Übersichtsmodus mit großem Sehfeld, optimaler Bildqualität bei hoher Geschwindigkeit mit einem neuen, patentierten Autofokus, Smart Autopilot optimiert die Elektronenbahnen durch die Säule und gewährleistet so die höchstmögliche Auflösung bei jeder Beschleunigungsspannung, Die Autofunktionen ermöglichen einen nahtlosen, justagefreien Übergang über den gesamten Vergrößerungsbereich um das 1- bis 2.000.000-fache und eine Vergrößerung des Sehfelds um das 10-fache, sodass ein 13 cm großes Objekt in einem einzigen Bild abgebildet werden kann, Der Bildspeicher von 32.000 × 24.000 gewährleistet in Kombination mit dem neuen Übersichtsmodus eine Auflösung (ohne Stitching) über ein beispiellos großes Sehfeld, eine minimierte chromatische Aberration, da die primäre Energiebreite um 30 % reduziert wird, Tandem decel, ein zweistufiger Abbremsungsmodus, kombiniert die Beambooster-Technologie mit einer hohen negativen Vorspannung, die an die Probe angelegt wird: Die Elektronen des primären Elektronenstrahls werden abgebremst, wodurch die Landeenergie effektiv reduziert wird, Verwenden Sie diesen, um die Auflösung unter 1 kV weiter zu verbessern und die Detektionseffizienz von dioden-basierten Rückstreudetektoren zu verstärken, Das Anlegen einer Vorspannung von bis zu 5 kV im optionalen Tandem decel-Modus verbessert die herausragende Imaging-Leistung bei geringen Spannungen noch zusätzlich, Visualisierung von Struktur, Integrität und Fehlern in nanoelektronischen und photonischen Komponenten, Imaging empfindlicher Proben wie 2D-Materialien bei gleichzeitiger Vermeidung größerer Strahlenschäden, Aufladungseffekte oder Bildverzeichnungen, Untersuchung von Nanomagnetismus und Nanomechanik mit hoher Auflösung, Charakterisierung der Oberflächentopographie des Materials und Analyse seiner Elementzusammensetzung, Schaffung und Bewertung der Qualität von Bauelementen für Nanofluidik-Experimente, Bewertung von Mikrostruktur und Komponenten, Vielseitige Materialcharakterisierung mit Subnanometer-Auflösung und exzellentem Kontrast und Schärfe, Erzeugung experimenteller Daten für die Validierung und verbesserte Genauigkeit von Simulationsmodellen, Oberflächencharakterisierung und -bewertung, Strukturanalyse, Segmentierung und Quantifizierung, Korrelative multidimensionale Charakterisierung aufgrund der typischen hierarchischen Struktur einiger Biomaterialien, Schadensanalyse mechanischer, optischer oder elektronischer Komponenten, Charakterisierung von Oberfläche, Mikrostruktur und Bauelement, Elementare Zusammensetzung und Phasenverteilung, Bestimmung von Verunreinigungen und Einschlüssen, Messung elektronischer Eigenschaften mittels Abtastung, Auswahl einer Stelle für eine TEM-Lamellenpräparation, Imaging von empfindlichen, nichtleitenden, ausgasenden oder kontrastarmen Proben, Visualisierung der Ultrastruktur von Zellen, Geweben etc. Zeiss feiert den 50. Sigma 300 Trailer - English. Geburtstag von Carl Zeiss eintragen. Erstellen Sie 3D-Tomogramme mit einer Auflösung im Nanometerbereich, indem Sie die ausgerichteten Bilder an Ihre anwendereigene 3D-Rekonstruktionssoftware übermitteln. Mit ZEN Connect können Sie alle Ihre Daten zusammenführen, um sie zu segmentieren und mühelos Ergebnisberichte zu erstellen. Das magnetfeldfreie Imaging von Proben bei unter 1 kV mit einer Auflösung von unter 1 nm, ganz ohne Probenvorspannung oder Monochromator – Gemini 3 macht's möglich. ファイルサイズ: 2236 kB, Electron Channeling Contrast Imaging Performed by ZEISS GeminiSEM 500, ページs: 7 Das ist das neue eBay. Achieve your elemental analysis fast and convenient with the best-in-class EDS geometry of ZEISS Sigma 500. Aber – was die bisherigen Indus- triellen Revolutionen zeigen – wir sollten dies nicht um jeden Preis wollen, sondern in humanistischen Grenzen. Verbinden Sie Kompetenz in Imaging und Analytik. ZEISS GeminiSEM 450 provides overall flexibility and ease of use for both analytics and imaging at high resolution. using a Zeiss GeminiSEM 450 at 15kV. Auf LinkedIn können Sie sich das vollständige Profil ansehen und mehr über die Kontakte Count on accurate, reproducible results – from any sample, every time. Count on accurate, reproducible results – from any sample, every time. You can rely on its surface sensitive analysis and profit from the highest sample flexibility. mehr. ZEISS Primostar 1 : Ihr preiswertes Mikroskop für Bildung und Lehre. Verwandeln Sie Ihr ZEISS GeminiSEM 360 oder GeminiSEM 460 mit 3View®-Technologie von Gatan, Inc. in ein extrem schnelles, hochauflösendes 3D-Imaging-System. Nehmen Sie Bilder im Subnanometerbereich unter 1 kV ganz ohne Immersionsobjektiv auf. Abtasten bei gleichzeitiger Abbildung kann weiteren Aufschluss über die Funktion geben. Diese Mikroskope sind generalüberholt, nach ZEISS Standards zertifiziert und mit einer gesetzlichen Gewährleistung abgedeckt. Jetzt steht Ihnen an einem FE-SEM die automatisierte STEM-Tomographie zur Verfügung. Entdecken Sie das Produktangebot von Mikroskop für Materialforschung der Firma Carl Zeiss. Sehen Sie die Eigenschaften oder das technische Datenblatt der Produkte der größten Marken ein. Die Anwendung von Tandem decel erhöht den Kontrast so stark, dass alle Zellorganellen deutlich und hochaufgelöst erkennbar sind. Gerne erstellen wir Ihnen ein individuelles Angebot für ein neues ZEISS Rasterelektronenmikroskop zum bestmöglichen Preis FIB-SEM-Mikroskope Crossbeam 340 und Crossbeam 540 Erfassen Sie mehr Informationen in weniger Zeit 3View ® für Ihre ZEISS FE-REMs Block-Face-Imaging ist eine schnelle und komfortable Methode, um 3D-Bilder mit Nanometer-Auflösung zu erstellen. langfristiger Stabilität der SEM-Justage und mühelose Anpassung aller Systemparameter wie Sondenstromstärke und Beschleunigungsspannung. Dr. Mario Hentschel, Universität Stuttgart, Zentrum für Angewandte Quantentechnologie, Deutschland. Anode einer Lithium-Ionen-Batterie, 1 kV, Inlens SE-Detektor, Nanofaser-Gerüst aus vernetzter Gelatine für die Gewebezucht, Sprödbruch einer Stahlprobe unter Spannung. als scanning electron microscope (Abk. 3D STEM-Tomographie eines CeO2-Nanopartikels. 1). Bei derartigen Aufnahmen hat sich die REM / FIB Technik bewährt. Erstellen und konfigurieren Sie über die Python-API von ZEISS eigene automatisierte Experimente. Zeiss kommt gut durch Corona. ファイルサイズ: 5476 kB, 非導電性の鉱物であるモンモリロン石の破断面において、ナノメーターレベルの特徴が明確に現れています。, ZEN Connectを使ってマルチモーダルな実験を行い、試料の特性を完全に解明します。, 低電圧での非導電性鉱物粒子の表面のディテール：GeminiSEM 560、800 V、Inlens SE。, Dr. Mario Hentschel, from the ZAQuant, University of Stuttgart, Germany, あらゆる試料の特徴を包括的に判断するには、撮像と分析の実行レベルの高さが重要です。さらに、今日のユーザーからは、デバイスの設定と取り扱いが容易であることが求められています。. The new models ZEISS GeminiSEM 360, 460 and 560 are tailored for sub-nanometer imaging and effortless analytics. Eine Edelstahlprobe, die mit dem AsB-Detektor unter einem in situ-Zuglastversuch abgebildet wurde Die Bilder verfügen über einen extrem hohen Kontrast und erfassen die Bildung von Gleitbändern während des in situ-Ladens, wie auf den Bildern vor (links) und nach dem Laden (rechts) dargestellt wird. 3View®社の3View®テクノロジーが搭載されており、これによって、樹脂に埋め込まれた細胞試料および組織試料の高分解能3Dデータを、最短可能な時間内に、最適な方法で、取得することができます。試料は継続的に切断され続け、それによって、1日で数千枚におよぶ連続画像を作成することができます。独自のZEISS Geminiカラムテクノロジーが、GeminiSEMを、このアプリケーションをサポートするために調整します。また、Focal Charge Compensation を使って、帯電効果を排除することもできます。ZEISSはこのガス注入システムを、National Center for Microscopy and Imagingとの協力によってリリースしました。Focal Charge Compensationを使えば、測定結果を素晴らしい画質で取得することができます。3Dナノ組織構造の研究を行う場合、電子顕微鏡を用いたブロックフェース撮像による肝臓、腎臓、および肺などの組織試料の研究は、病理学的研究の際にたいへん役立ちます。帯電効果を排除するためにFocal Charge Compensationを使用すると、これらの帯電しやすい組織試料は、三次元で高分解能・高速度で撮像されます。, すべてのサンプルにおいて高分解能イメージングと分析の高い要求に対応する 電界放出型走査型電子顕微鏡（FE-SEM）, ページs: 47 ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Diese Säule, die auf dem Zeiss Gemini Prinzip beruht, wird … GeminiSEM 560, aSTEM, Hellfeld, 30 kV. Bekanntmachung vergebener Aufträge Ausschreibungen Deutschland Nutzen Sie es für Ihre anspruchsvollsten Projekte in der Material und Biowissenschaft. Außerdem erwarten moderne Nutzer, dass sich Instrumente einfach einrichten und bedienen lassen. CIGS-Solarzelle auf einem Aluminiumsubstrat bei 1,8 kV, Inlens SE-Detektor. Das Gemini-Objektivlinsendesign kombiniert elektrostatische und magnetische Felder, um die optische Performance zu maximieren und gleichzeitig die Feldeinflüsse auf die Probe auf ein Minimum zu reduzieren. Nutzen Sie den Vorteil, das System durch umfangreiches Zubehör anpassen zu können. Auf das Gebot wird das aktuell geltende Aufgeld sowie 19% MwSt. Polymere, Katalysatoren & Bio-mimetische Materialien. Alle GeminiSEM sind in das Ökosystem ZEISS ZEN core eingebunden, worüber Sie Zugriff auf ZEN Connect, ZEN Intellesis und die ZEN Analysemodule für die Berichterstellung und GxP-Workflows erhalten. Nehmen Sie direkten Kontakt mit dem Unternehmen auf. ... um ein Angebot oder einen Preis zu erhalten. Atlas 5 macht Ihr Leben einfacher, denn Sie können in einer probenorientierten, korrelativen Umgebung vollständig multidimensionale, multimodale Bilder erstellen. Diese Funktionen lassen sich mithilfe von Python-Skripten in automatisierten Workflows wie der 3D-STEM-Tomographie nutzen. Verlassen Sie sich auf ein schnelles Mapping ohne Abschattungen. Ansicht des GUIs der korrelativen Benutzeroberfläche eines ZEN Connect-Projekts mit ausgerichteten Daten. Hier zeigt EBAC (englisch: electron beam absorbed current, Elektronenstrahl getriggerter Absorptionsstrom-Kontrast oder Widerstandskontrast-Abbildung) die Verbindungen einer Schaltung ausgehend von einem mit der Sonde kontaktierten Knotenpunkt (Bild Nr. Das zerkleinerte SiO2 zeigt auf dem linken Bild eine positive Ladung. Sehen Sie sich das Profil von Franz Ganster im größten Business-Netzwerk der Welt an. Aufnahme mit GeminiSEM 560. The GeminiSEM delivers effortless imaging with sub-nanometer resolution and high detection efficiency. The present study aims at investigating the effects of porous structure development and ash content on the observed reactivity during steam gasification of biochar residues from a commercial gasifier. Entdecken Sie das Produktangebot von Labormikroskop der Firma Carl Zeiss. Mit Autofunktionen wie z. Probe: Elektronisches Bauteil, eingebetteter und mechanisch polierter Querschnitt. Das Imaging anspruchsvoller Proben wird jetzt durch die neue Elektronenoptik-Engine Smart Autopilot beschleunigt. 組織、細胞またはウイルスとSTEM撮像：組織培養で成長し、化学固定によって不活性化されたSARS-CoV-2ウイルス。ウイルスはネガティブ染色されています。 GeminiSEM 560、aSTEM、疑似色彩によって撮像しています。 Sample: courtesy of M. Hannah, Public Health England, UK. ZEISS GeminiSEM steht für müheloses Imaging mit Auflösungen im Subnanometerbereich. Dadurch erreichen Sie verzerrungsfreie EBSD-Muster und hochauflösendes Imaging über ein großes Sehfeld, Neigen Sie die Probe, ohne die elektronenoptische Leistung zu beeinflussen. Ihre grundlegenden Entdeckungen zur Kontrolle des Zellzyklus haben großen Einfluss auf alle Aspekte des Zellwachstums. Die Probe wird kontinuierlich geschnitten und abgebildet, sodass Sie Tausende von Serienbildern an einem einzigen Tag erstellen können. Nehmen Sie Bilder von nichtleitendem, vakuumempfindlichem Material mit einem neuen druckvariablen Modus und Detektorsystem auf: Sie können schnell Ergebnisse erzielen und Merkmale erhalten, indem Sie vakuumempfindliche Proben durch das neue Gentle Airlock im VP-Modus in die Kammer einbringen. Quantifizieren Sie Ihre Ergebnisse mittels Bildverarbeitung, Segmentierung und Objektanalyse. Die namensgebende Elektronenoptik Gemini 1 bietet Ihnen den Vorteil oberflächenempfindlicher, hochauflösender Bilder mit ausgezeichneter Auflösung bei niedriger Spannung und hervorragender Geschwindigkeit bei hohem Sondenstrom. Ursprünglich im Bereich der Materialwirtschaft angesiedelt, hat das REM inzwischen einen festen Platz in Disziplinen wie Elektronik, Forensik und Archäologie. ZEN Automated Imaging für SEM – Schlägt die Brücke zwischen Licht- und Elektronenmikroskopie, indem die Bedienung von Elektronenmikroskopen vereinfacht wird. Magnetische FeMn-Nanopartikel abgebildet bei geringer Beschleunigungsspannung, 1 kV, Inlens SE-Detektor, GeminiSEM 560, Bildbreite 565 nm, Kantenlänge eines Würfels ca. Diese können Ihnen bei der Lösung Ihrer Probleme helfen. Kauf bei eBay mit kostenlosem Versand und eBay-Käuferschutz für Millionen CZI-Bildformat. 提供：Aalen University, Materials Research Institute, Aalen, DE, マウスの肺の組織、ブロックフェース画像、Focal Charge Compensation機能を用いて撮像, GeminiSEMファミリーの製品が、皆様の撮像と分析におけるニーズに対して、どのように応えているかを紹介します。, 独自のZEISS Geminiカラムテクノロジーが、GeminiSEMを、このアプリケーションをサポートするために調整します。また、Focal Charge Compensation を使って、帯電効果を排除することもできます。ZEISSはこのガス注入システムを、National Center for Microscopy and Imagingとの協力によってリリースしました。Focal Charge Compensationを使えば、測定結果を素晴らしい画質で取得することができます。3Dナノ組織構造の研究を行う場合、電子顕微鏡を用いたブロックフェース撮像による肝臓、腎臓、および肺などの組織試料の研究は、病理学的研究の際にたいへん役立ちます。帯電効果を排除するためにFocal Charge Compensationを使用すると、これらの帯電しやすい組織試料は、三次元で高分解能・高速度で撮像されます。, GeminiSEM 360は、材料化学、生命化学、そして産業用途に最大の汎用的対応力を発揮する、コアファシリティとして理想的なデバイスです。, Gemini 1の名を冠する電子光学系の設計によって、高い表面感度、低電圧での優れた分解能、高プローブ電流での高速性をもたらします。, 取り扱いの難しい試料でも、インレンズ二次電子撮像と後方散乱電子撮像とを同時に使用することで、高い分解能の表面情報および組成情報を取得することができます。, 低真空、いわゆるVPモードで非導電性の試料の撮像をしたい場合、インレンズ検出器のコントラスト調整を諦める必要はありません：NanoVPが最大限の汎用性を提供し、帯電することのないインレンズ撮像を行うことができます。, GeminiSEM 360は、他に類を見ないユーザーエクスペリエンスを提供します。FOVが広く、チャンバが新しくなり、構成の自由度があがったため、大きな寸法の試料からも簡単にデータを得ることができます。, ZEISS ZEN Connectを使って、コンテキストに沿ったイメージングと相関顕微鏡法とによるスムーズなナビゲーションを利用することができます。, 弊社が特許を取得しているオートフォーカスや、スマートデテクタなどの自動化機能を使って、鮮明でメリハリのある画像を簡単に取得することができます。, 正対するEDSポートと同一平面上のEDS/EBSDジオメトリによって、撮像ワークフローと分析ワークフローの両方を効率的に実行します。, ZEISS Predictive Service（予知保全サービス）を使えば、都合の良いときにメンテナンスのスケジュールを組み入れることができるので、システムの稼働時間を最大化することができます。, 投資した機器資産を無駄にしないためには、アップグレードできることが肝要です。GeminiSEM 360がZEISS ZEN coreのソフトウェアエコシステムに連携しているのは、まさにそのためです。, ZEN Connectを使って、マルチモーダル・マルチスケールのデータ、高度なAI駆動によるセグメンテーションのためのZEN Intellesis、そしてセグメンテーションデータのレポート作成と分析のためのZEN分析モジュールとを連携させることができます。ZEN data storageを使えば、研究室にあるさまざまな機器に接続してそこからデータを取得することによって、プロジェクトを一元的に管理することができます。, APEERコミュニティのメンバーになることで、課題解決に役立つ他のユーザーが作成したワークフローやスクリプトにアクセスすることができます。, 新しい機能がリリースされるたびに、アップグレード計画に沿って、システムの機能を向上させることができます。, GeminiSEM 460は、困難な分析タスクを実行することができ、効率的な分析と自動化ワークフローを備えています。, 高分解能撮像と分析を迅速に行います。Gemini 2 カラムを使って、低電流・低加速電圧から高電流・高加速電圧への切り替え、そしてその逆方向の切替えがスムーズにできます。, 分析作業を効率的に行うために、多目的チャンバを利用し、適切な分析用デテクタを選択できます。, 新しいVPモードを使用し、電流を上げて、4000 patterns/sのインデックスレートを持つEBSDマップを取得できます。, 正対する2つのEDSポートと同一平面上のEDS/EBSD構成によって、化学的組成と結晶構造の方向を観察します。高速で影のないマッピングが取得できます。, このような強力な分析機能を有していることとともに、ワークフローの自動化がたいへん重要になります。ZEISSのPython scripting APIを使って、自分だけの自動化実験プロセスを作成し構成することができます。, 実験プロセスに変更を加え、その成果を自分自身のニーズに合わせてカスタマイズすることができます。, STEMトモグラフィーを最大限に活用することができます。自動傾斜機能と自動回転機能を、特許を取得している特徴追跡機能と組み合わせます。位置合わせ済みの画像がすべて3D再構成専用ソフトウェアに送信された後、ナノメートルスケールの3D断層写真を作成します。, 材料を工学的限界まで試験する必要がある場合、ZEISSの自動化された原位置加熱および応力実験機能を自由に使用することができます。応力-ひずみ曲線をその場で記入するので、熱および応力のかかった状態での材料の特性を自動的に観察することができます。, Gemini 2の設計により、低加速電圧下でも高電流密度にビームを調整できます。材料科学および生命科学の枠を超えて、分析機能を拡張します。, 広範で種類に富むアクセサリを使って、システムを自由に構成できます。多目的チャンバは、分析用のデバイスだけではなく、in-situ 実験、低温撮像、およびナノプロービング向けのデバイスと構成することもできます。, 機器のライフサイクルにおけるどの時点でも、さまざまな構成を試し、また、アップグレードを行うことができます。, GeminiSEMデバイスはすべて、ZEISS ZEN coreエコシステムと連携しており、ZEN Connect、ZEN Intellesis、およびレポート作成のワークフローおよびGxPワークフローを実行することができる、ZEN分析モジュールにアクセスすることができます。, GeminiSEM 560を使えば、表面の特性をしっかりととらえた、歪みのない、高分解能での撮像がしやすくなり、1kVを下回る低電圧での撮像が容易に行えるようになります。, 加速電圧1kV以下かつ1nm以下の分解能で、フィールドフリーの（磁場の影響を受けない）試料撮像を行います。このとき、試料へのバイアス電圧付与やビームの単色化は必要はありません。これは、ナノツインレンズと新しい電子光学エンジンであるSmart Autopilotを備えている、Gemini 3によって可能になりました。, 新しいVPモードと検出システムを使って、非導電性の、真空状態の影響を受けやすい材料の画像を取得します。真空状態の影響を受けやすい試料は、VPモード専用のGentle Airlockを通して、チャンバに導入することで、迅速な結果出力を可能にします。, デュアルEDSポートを持つ新しい大型のチャンバを活用することによって、繊細な試料の分析も容易に行うことができます。最適なデテクタ立体角によって、迅速な影のないEDSマッピングの作成が可能になります。, 新しい電子光学エンジンであるSmart Autopilotによって、取り扱いの難しい試料の撮像を迅速に行えるようになりました。, 大幅に広くなったFOVを活用することによって、試料のナビゲーションが容易になりました。, Smart Autopilotは、時間のかかるアライメント作業を助け、時間を節約します。この電子光学エンジンを駆動して等倍から50万倍までの倍率を提供し、その一方で位置合わせや校正、および焦点合わせなども行います。, Smart Autopilotは、新しく特許を取得した視差オートフォーカスと、新しいオートウォブラを備えており、これによって、ほんの数秒で鮮明でメリハリのある画像を提供します。, Pythonスクリプトは、例えば3D STEMトモグラフィーなどの自動ワークフローにおいて、Smart Autopilotの機能を使用することができます。, 「最適条件を見つける」ことは、完璧な画像を取得するための、最適なパラメータの組み合わせを選択するということを意味します。最適条件を見つけることが、良い画像を取得するためのコツです。, フィールドフリー撮像のできるGeminiカラムテクノロジーと新しいGemini 3カラムは、この最適条件を見つけることが可能で、お手持ちの試料から新しい情報を引き出すことができます。, GeminiSEM 560は、試料上に磁場（2mT未満）がある場合も、磁気コントラスト撮像を容易に行うことができます。, 環状BSD（aBSD）を用いた電子角度分光撮像を実行しつつ、エネルギー選択型のインレンズBSD（EsB）を用いてエネルギー分光撮像を実行します。, ZEN Connectを使えば、あらゆるデータをまとめ、作業結果を容易にセグメント分割しレポートを作成することができます。, Geminiの対物レンズは、試料への場からの影響を最小化しつつ、光学的パフォーマンスを最大化するために、静電場と磁場とを組み合わせて設計されています。これによって、例えば磁気を持つ材料など取り扱いの難しい試料でも、良質な画像を取得することができます。, Geminiの内蔵ビーム減速装置であるビームブースターテクノロジーは、小さな寸法の試料を高い信号対ノイズ比で撮像することを可能にします。, Geminiのインレンズ信号検出コンセプトは、撮像所要時間を短縮しつつ、二次電子（SE）と後方散乱電子（BSE）を並行して検出することによって、効率的な信号検出を可能にします。, SEMのアライメントが長期にわたって安定していることと、プローブ電流や加速電圧などのあらゆるシステムパラメータを最適化すること。, 光学系にほとんど磁場漏れがないことによって、歪みのない高分解能の撮像を行えること。, インレンズ二次電子検出器を使って、試料の最表面からの情報を単独で取得できること。この検出器は、表面の性状に大きく影響される、入射電子によって直接励起された二次電子（SE 1）から画像を得ること。, エネルギー選択型インレンズBSD（EsB）の検出コンセプトによって、低加速電圧で本来の材料コントラストを取得できること。, GeminiSEM 460は、ダブルコンデンサーをその特徴とする、Gemini 2光学系を備えています。, 低いビーム電流での高分解能撮像と、高いビーム電流での分析モードとをスムーズに切り替えます。, 撮像パラメータを変更してもビームの位置合わせをし直す必要がないので、時間と手間を省くことができます。, 柔軟度が保たれます。どのビームエネルギーを選択したかにかかわらず、高分解能撮像に最高ビーム電流密度を使用し、分析には低いビーム電流と高いビーム電流の両方を使用することができます。, 試料が磁場に曝されることがありません。歪みのない電子線後方散乱回折（EBSD）パターンを取得し、大きな視野での高分解能撮像を実行します。, 電子光学系のパフォーマンスに影響することなく、試料を傾けることができます。磁気を持つ試料の撮像も容易に実行することができます。, お使いの試料に最も合った低真空モード、すなわち、LCC、VPモード、またはNanoVPを選択することができます。, 低加速電圧、および超低加速電圧 で、サブナノメートルの分解能、そして優れた信号検出効率性を提供します。, 標準のGemini対物レンズと比べて3倍低い低電圧でのレンズ収差。その結果として試料上の磁場が3倍弱くなります（約1mT）。, コンデンサレンズによるビーム開き角の最適化機能（あらゆる作業条件において）。これによって、それぞれの作業エネルギーでの最善可能な分解能を実現。, 試料ナビゲーションと高分解能撮像の移行をスムーズにするための、新しい、大視野FOVモード。, Smart Autopilotがカラムを通る電子の軌道を最適化し、それによって、各加速電圧で最も優れた分解能を確保します。, 自動系機能が、等倍から200万倍に到るまでの倍率範囲全体で、視野内での10倍刻みでの増分による、スムーズで、位置合わせ不要の倍率の変更を可能にします。このとき、単一のフレームで13 cmの撮像対象に対応することができます。, 新しいオーバービューモードとの組み合わせによる画像フレーム 32k × 24kが、比類のない広さのFOV上で、スティッチ不要の画素密度を可能にします。, 2段階のビーム減速モードであるTandem Decelは、ビームブースターテクノロジーと、試料に適用されるバイアス電圧とを組み合わせたもので、一次電子ビームの電子が減速され、入射電子のエネルギーがが効果的に削減されます。, この機能を、加速電圧1kV未満における分解能をさらに向上させるために使用し、BSDの検出効率を高めます。, 最大5kVのTandem Decelのオプションのバイアス電圧によって、低電圧での優れた撮像機能がさらに向上します。, 電子ビームによる損傷、帯電、あるいは画像の歪みを回避しながら、二次元マテリアルなど取り扱いの難しい試料を撮像, 高分解能でのナノ磁気学的およびナノ力学的研究、材料表面トポグラフィーの特徴判定、およびその基本組成の分析, 優れたコントラストとシャープネスを備えたサブナノメートル分解能での汎用性の高い材料特性評価, 機械式コンポーネント、光学式コンポーネント、あるいは電子式コンポーネントの欠陥分析, ZEN Connect -相関ワークスペース内で、お持ちの画像データを組織化し整理することができます。, ZEN Intellesis - 画像セグメンテーションのための、AIによって動作する高度な機械学習または深層学習機能です。, ZEN data storage - さまざまな機器からのデータに接続することによって、プロジェクトを一元的に管理します。, ZEN Automated Imaging for SEMs – 電子顕微鏡のオペレーションをシンプルにすることで、光学式顕微鏡と電子顕微鏡との連携をサポートします。, ZEN’s analytical modules - 例えば、GxP、グレーン、NMI分析など、材料研究において、セグメント化されたデータのレポートを作成し分析を行います。.
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